跳到主内容
ElecSimHub
J

焦耳热(I²R损耗)

电气基础

电流在导体中产生的热量,与电流平方乘以电阻成正比,是变压器负载损耗的主要来源。

焦耳热(I²R损耗)是变压器绕组中铜损的基本机制。当电流流过导体电阻时,电能以P = I²R的速率转换为热量。

在变压器中,焦耳热占负载损耗的主要部分。基本的I²R分量由导体、夹紧结构和油箱壁中的杂散涡流损耗补充——统称为附加损耗。

设计优化:更大的导体截面积可降低R,但会增加尺寸和成本。更高导电率的高级铜可直接降低损耗。

QDTB优化绕组几何形状并使用高导电率铜,以最小化所有油浸式和干式产品中的焦耳热。有关损耗评估方法,请参阅选型指南。

需要变压器选型帮助?

QDTB 工程师可根据您的具体需求帮助您选择合适的设备